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關(guān)于高溫老化房的試驗(yàn)要點(diǎn)及試驗(yàn)意義分享

更新時(shí)間:2014-01-02       瀏覽次數(shù):2403
 高溫老化房是各種老化試驗(yàn)中常用設(shè)備之一,廣泛應(yīng)用于電子、IT、軍工、汽車、通訊等領(lǐng)域。老化房通常由圍護(hù)結(jié)構(gòu)、風(fēng)道系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、室內(nèi)測(cè)試架構(gòu)等組成。房體結(jié)構(gòu)一般采用保溫板(雙面彩色鋼板,中間加保溫材料)在現(xiàn)場(chǎng)拼裝而成,整個(gè)房間外表美觀,結(jié)構(gòu)牢固,同時(shí)安裝方便快捷,施工期短。在房間墻上,根據(jù)需要可設(shè)置觀察窗,方便在室外觀察到室內(nèi)產(chǎn)品測(cè)試情況。在墻上還配有不同電壓的插座,以滿足產(chǎn)品老化測(cè)試時(shí)的需要。由于采用了*的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計(jì)及電控系統(tǒng),能保持整個(gè)房間溫度高度均勻性,整體上保證了溫度控制準(zhǔn)確,精度高。另外,系統(tǒng)保護(hù)功能齊全,能確保安全長(zhǎng)期穩(wěn)定*運(yùn)行。
 
產(chǎn)品老化的意義:隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高,結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微,工序越來(lái)越多,制造工藝越來(lái)越復(fù)雜,這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類,*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;第二類是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的,所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓,例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn),來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力,模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段,進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。而通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。老化的意義總結(jié)而言是通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品施加加速環(huán)境應(yīng)力,如溫度應(yīng)力、電應(yīng)力、潮熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等,促使?jié)撛谌毕菁铀俦┞冻晒收希_(dá)到發(fā)現(xiàn)和剔除潛在缺陷的目的。
 
高溫老化房在試驗(yàn)完畢后正確的操作方法:
1、高溫老化房使用完畢,應(yīng)先切斷“高壓”開(kāi)關(guān),然后切斷“低壓” 開(kāi)關(guān),否則由于電子管燈絲的余熱,可能使電路工作在不正常的條件下,造成意外的故障。
2、高溫老化房使用完畢,應(yīng)先切斷儀器的電源開(kāi)關(guān),然后取離電源插頭。應(yīng)禁止只拔掉電源插頭而不切斷儀器電源開(kāi)關(guān)的簡(jiǎn)單做法,也應(yīng)反對(duì)只切斷電源開(kāi)關(guān)而不取離電源插頭的習(xí)慣。前一種情況使再次使用老化箱時(shí),容易忽略開(kāi)機(jī)前的準(zhǔn)備工作,而使儀器產(chǎn)生不應(yīng)有的沖擊現(xiàn)象;后一種情況可能導(dǎo)致忽略儀器局部電路電源的切斷,而使這一部分電路一直處于通電狀態(tài)(例如數(shù)字頻率計(jì)的主機(jī)電源開(kāi)關(guān)和晶 體振蕩器部分的電源開(kāi)關(guān)一般都是分別裝置的。
3、高溫老化房使用完畢,應(yīng)將使用過(guò)程中暫時(shí)取離或替換的零部件 (如接線柱、插件、探測(cè)器、測(cè)試筆等)整理并復(fù)位,以免散失或錯(cuò)配而影響工作和測(cè)量準(zhǔn)確度。必要時(shí)應(yīng)將儀器加罩,以免積灰塵。
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